場發射掃描電子顯微鏡（SEM）
生產廠家：美國賽默飛（FEI）
設備型號：Apreos
主要技術指標：
1.電壓范圍：800 V～30 kV（SEM）；
2.最佳分辨率：靜電-磁復合末級透鏡在 1 kV 電壓下的分辨率為 1.0 nm；
3.成像模式：二次電子或背散射；
4.測量倍數范圍： 200~300000×
應用范圍：
SEM廣泛應用于復合材料、陶瓷材料、金屬材料、高分子材料、生物材料、電子材料等塊體、片狀、薄膜樣品的微觀形貌分析及其成份定性分析，是研究各種材料的超顯微結構與性能關系不可缺少的工具。FEI Apreos是研究納米顆粒、催化劑、粉末和納米器件的理想平臺，傳統的高分辨率 SEM 透鏡技術分為兩類：磁浸沒或靜電。FEI Apreos將兩種技術結合到一個儀器中。這樣做所產生的成效遠遠超過任一種鏡筒的個體性能。兩種技術均使電子束形成細小探針，以提高低電壓下的分辨率，并使信號電子進入鏡筒。通過將磁透鏡和靜電透鏡組合成一個復合透鏡，不但提高了分辨率，還增加了特有的信號過濾選項。
樣品要求及測試說明：
1. 塊體、片狀、薄膜尺寸小于1*1*0.5 cm；粉末樣品大于5 mg；
2. 塊體、片狀、薄膜樣品請標注測試面；
3. 含水樣品測試時均需干燥后測試；
4. 送樣請先檢測磁性并如實告知，因為磁性未說明損傷儀器，需要承擔維修費用，本設備只測試非磁性樣品和極微弱磁性樣品（攪拌轉子不吸引）。
5、能譜EDS備注理想區域，如有標尺要求請備注，如果沒有備注，常規測試；
6、周期表中1-4號元素不能測試能譜；B、C、N、O、F等超輕元素能譜測試不準，望知曉；
7. 樣品不能含有任何液體溶劑，同時具有放射性、易揮發性、不穩定的物質和強酸強堿性樣品也無法測試，例如 S、Na、K 金屬單質， Fe 塊等。
測試項目及價格
（1）僅形貌觀察（SEM）：
400元/小時，（根據經驗，通常倍數在50000以下每小時可測3個樣，50000-300000×由于樣品性質不同，無法確定個數）。
（2）僅元素分析（EDS）：
EDS點分析：150元/每個樣品，每個樣品最多取3個點，超過后每增加一個點加收10元；
EDS線分析：175元/每1條線；
EDS面分析：200元/面分布/15分鐘。
（3）形貌觀察和元素分析（SEM+EDS）：
形貌觀察：與僅形貌觀察收費相同。
元素分析：EDS點分析75元/每個樣品，限3個點，超過每點加收10元；
EDS線分析：100元/每1條線；
EDS面分析：125元/個面分布/15分鐘。